2024年7月11—13日，“2024中國檢測技術與半導體應用大會暨半導體分析檢測儀器與設備發(fā)展論壇”于上海虹橋成功舉辦。
本次大會在中國技術創(chuàng)業(yè)協會、上海市經濟和信息化委員會、上海市科學技術協會、上海虹橋國際中央商務區(qū)管理委員會和上海市閔行區(qū)人民政府指導下，由國家集成電路創(chuàng)新中心、上海市儀器儀表行業(yè)協會和財聯社主辦，復旦大學光電研究研究院、復創(chuàng)芯、科創(chuàng)板日報、上海南虹橋投資開發(fā)有限公司等單位承辦，中國上海測試中心、上海市集成電路行業(yè)協會等單位協辦。
中國科學院院士、復旦大學光電研究院院長褚君浩；中國工程院院士、上海理工大學光電信息與計算機工程學院院長莊松林，中國半導體行業(yè)協會副秘書長兼封測分會秘書長徐冬梅等眾多學術、行業(yè)大咖悉數到場；來自清華大學、北京大學、復旦大學、上海交通大學、華東師范大學、同濟大學、上海大學、上海理工大學、浙江大學、南京大學、哈爾濱工業(yè)大學、天津大學、北京航空航天大學、華中科技大學、深圳大學和華僑大學等半導體檢測領域的專家教授也參會分享了前沿技術和待開發(fā)的需求；此外，中科飛測、上海精測、普源精電、北方華創(chuàng)、通富微電、蘇州天準和長川科技等100多家行業(yè)內知名企業(yè)，前來分享經驗，發(fā)布產業(yè)成果；500多位業(yè)內嘉賓，共同參加了會議交流。
此次大會規(guī)?？涨?，除了開幕當天的主旨報告，還設立包括集成電路晶圓級缺陷檢測技術、半導體器件可靠性及失效分析、先進制造及封裝技術、半導體檢測設備及核心零部件等在內的15個分會報告，70多場專題分享。
報告嘉賓們熱情洋溢地分享著自己的研究成果和技術方案，參會者全神貫注，共同深入探討行業(yè)內的最新進展，進行著思維的碰撞和經驗的交流；這場學術與企業(yè)交流的盛會，對半導體行業(yè)的發(fā)展將產生深遠的影響。
才道精密，做為半導體檢測設備的新興企業(yè)，也應邀參加了此次盛會，并向參會者，展示了三維納米尺度的檢測設備—-原子力顯微鏡。這是第三代第四代化合物半導體襯底外延片必檢項—-粗糙度檢測必選的設備，市場一直被國外品牌所壟斷。才道精密12英寸（8英寸）工業(yè)端原子力顯微鏡的推出，開啟了該設備國產替代的第一步，該國產化原子力顯微鏡已經獲業(yè)內相關客戶的關注和認可。
才道精密一直聚焦半導體和面板顯示行業(yè)的精密顯微檢測設備的研發(fā)生產和銷售，致力于“國產替代”，助力民族產業(yè)的發(fā)展，除原子力顯微鏡外，還推出了半自動/全自動半導體電性測試的探針臺、半自動/全自動高精度8英寸晶圓劃片機、玻璃基板自動化復合型宏微觀檢測設備等。
此次會議，也讓更多的業(yè)內專家和企業(yè)了解了才道精密，給予了很多關注，為以后的合作與發(fā)展，打下了信任的基礎。
